多田哲生

三菱電機
理工学部長 徳島文理大学理工学部教授 電子情報工学科
工学博士
  • (社)電子情報通信学会 会誌編集委員・四国支部評議委員
  • (社)プロジェクトマネージメント学会
  • (社)エレクトロニクス実装学会
  • 日本半導体ベンチャー協会
  • SEMICONDUCTOR TEST CONSORTIUM Menber
  • (社)電子情報技術産業協会 半導体技術ロードマップ専門委員会
企業の最先端VLSIの開発部門で25年間、VLSIメモリ・ロジックのテスト技術(テスト容易化設計、高性能テスト治具開発、テストプログラム作成の効率化など)の研究開発およびテスター利用技術(VLSIテスター、EBテスタによる評価システムの構築など)の開発を行った。テストコスト、経済性も含めたテスト関連の研究を行う。
  1. 高性能LSIテスト治具(多ピン・狭ピッチ対応プローブカード)
  2. VLSI評価・解析システム
  3. VLSIテスター利用の効率化
  4. テスト容易化設計
  1. 回路シミュレーション
  2. テスト容易化設計
  3. 高性能LSIテスト治具
  4. LSIテストの経済性、コスト削減、効率化
  5. LSIの信頼性・品質保証
  1. LSIテスト技術、LSIテスト装置応用技術
  2. 回路シミュレーション技術、伝送線路解析技術
  3. 品質保証技術
LSI・VLSI、LSIテスタ、テスト・評価、回路シミュレーション、コスト・経済性、品質保証

ロジックLSIテスタ(10MHz、128ピン)、伝送線路シミュレータ(IConnect)、EM評価装置

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